Conductive Anodic Filament (CAF)

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Eine Form der elektrochemischen Filigrankorrosion bei der elektrisch leitende (Kupfer)-Filamente (Fäden) von der Anode abgehend, unter der Leiterplattenoberfläche, in Richtung Kathode wachsen. Typische Umgebungsbedingungen sind Hochspannung (400V) und hohe Luftfeuchtigkeit (>80%). Die Ausbildung der Filamente erfolgt häufig entlang des Fiberglasgeflechts (Kette?). Resultierend besteht Kurzschlussgefahr zwischen Anode und Kathode. Diese Effekt wurde 1976 erstmalig dokumentiert durch die Bell Labs. Ursächlich werden 2 Faktoren benannt:

  1. Verminderter Verbund der Basismaterialkomponenten (Glasgeflecht/Epoxy)
  2. elektrochemische Korrosion
wobei der Einfluss von '1.' deutlich höher bewertet wird als der von '2.'. Begünstigend für '1.' werden benannt:
  • Mechanischer Stress
Hier wirken begünstigend sehr nahe beieinander liegende Bohrungen. Liegen die Bohrungen auf demselben Schuss- oder Kettfaden, kann es zum Lockerrütteln des Glasgeflechts beim Bohren kommen, wodurch Feuchtigkeit eindringen kann.
  • Thermischer Stress
    • Materialermüdung durch Lötvorgänge
  • Schlechter Verbund der Einzelkomponenten durch Einsatz minderwertige Agenzien
  • Feuchtigkeit
'2.' erklärt sich durch: Anode: Cu → Cun+ + ne- H2O → ½ O2 |^­ + 2H+ + 2e- Kathode: 2H2O + 2e- → H2 |^­ + 2OH- Cun+ + ne- → Cu wobei hier der Faktor Feuchtigkeit zum Tragen kommt.

Weiterführende? Stichwortsammlung (alphabetisch)

  • Anodisierung
  • Elektrolytisches Polieren
  • Fadenkorrosion
  • Filigrankorrosion


Quellen und Links

Von „http://wiki.fed.de/index.php/Conductive_Anodic_Filament_(CAF)“
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